尼康公司（Nikon）宣布对其 XT V 系列 X 射线CT 系统进行了全面的增强升级，进一步巩固该系列作为电子元件无损检测的世界级解决方案的地位。这些增强功能使操作人员能够获得更高的图像质量，扫描更重的样品，并保护敏感组件免受静电放电和辐射损伤。
一项软件增强和五项硬件增强可作为 XT V 系列的可选升级，允许客户根据其具体应用需求对系统进行定制。
软件增强：
- 高对比度滤波功能 2.0：提供始终清晰的成像效果，确保缺陷在任何样品形状和密度组合下都能立即被发现。
硬件增强：
- 重型托盘：支持扫描更大、更重的部件。操作员可以在每批次中扫描更多部件，扩大检测能力。
- 钻石视窗：在整个工作范围内提供更高的图像对比度，尤其适用于低密度和混合材料样品，减少噪点并加快扫描速度。
- 低剂量准直器：保护对辐射敏感的电子设备，将敏感部件（如半导体器件）所受剂量降到最低，同时支持对大批量样品进行安全检测。
- 静电安全升级：按 IEC 6100-4-2、ANSI/ESD S20.20 和 JEDEC JESD625 标准，在静电防护区域（EPA）内检查敏感电子元件的静电安全性，确保顺利整合到静电安全流程中。
- 高放大倍率CT臂：支持对小样品进行更高倍率的 CT 扫描，使操作员能够看到比以前更细微的细节。
XT V 系列继续在电子检测领域表现卓越，覆盖 PCB、BGA、芯片及半导体器件等应用。这些系统保持了其市场领先的 Xi 微焦点 X 射线源以及强大的图像增强功能，而新增的增强选项将为电子制造、半导体生产以及质量控制环境的客户带来更多的价值。
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