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首页»计量技术与设备»光学与非接触式测量»三维扫描系统»ReLogic3D携手SMARTTECH3D,高精度3D扫描技术登陆美国

ReLogic3D携手SMARTTECH3D,高精度3D扫描技术登陆美国

三维扫描系统 2025年9月8日358 查看

ReLogic Research近日宣布成立全新子公司ReLogic3D,专注于将高精度三维扫描技术在美国各行业中进行推广和普及。作为战略布局的关键一步,ReLogic3D已正式成为欧洲知名计量企业SMARTTECH3D METROLOGY在美国的独家合作伙伴,后者以其先进的结构光扫描系统在全球享有盛誉。

通过此次合作,SMARTTECH3D的计量级硬件将首次大规模进入美国市场,为当地用户提供经过实际验证的高精度设备、机器人集成解决方案,以及由本地技术团队支持的性价比优异的服务体系。

ReLogic Research首席执行官Chandler Wicks表示:“我们的客户经常面临复杂的工程与制造挑战,ReLogic3D的成立正是为了帮助解决这些问题。通过将SMARTTECH3D的高精度硬件与我们的专业知识及支持体系相结合,我们让先进的三维扫描技术既高效又易于获取。”

ReLogic3D 致力于满足航空航天、防务、制造及文化遗产保护等领域对数字工程解决方案日益增长的需求。其技术支持检测、逆向工程、数字孪生开发及文物保护,帮助组织提升效率并推动创新。

ReLogic3D 将于 2025 年 9 月 8 日在芝加哥 FABTECH 展会上正式亮相。

ReLogic Research总部位于阿拉巴马州亨茨维尔,长期为航空航天、国防及能源领域客户提供先进工程与制造解决方案。公司核心能力涵盖计量学、逆向工程、增材制造、计算建模、导弹系统材料测试及航空技术开发,在支持美国陆军、海军、空军、导弹防御局及多家国家实验室方面拥有丰富经验。

更多信息请访问:www.relogic3d.com

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