在光学计量技术取得重大突破的今天，泰勒霍普森（Taylor Hobson）正式推出LUPHOScan 75 HD全自动测量系统，为小型透镜的非接触式3D测量树立了全新的速度、精度和重复性基准。该仪器专为满足现代光学制造的严苛要求而设计，将实验室级别的精度与大批量生产环境所需的高效性能完美结合。
全自动对准实现最大吞吐量
LUPHOScan 75 HD的核心亮点是其全自动定心和调平工作台，这一创新设计彻底消除了传统手动对准的需求以及对操作人员技能的依赖。将以往耗时且易变的工序转变为简单、可重复的一键式操作，实现了无与伦比的一致性——从对准到分析的完整工作流程可在120秒内完成，显著提升了生产吞吐量。
面向新一代光学器件的应用
该系统专为小型光学元件生产而设计，特别适用于以下领域：
• 智能手机
• 医疗设备
• AR/VR系统
• 先进成像技术
达到实验室标准的性能表现
LUPHOScan 75 HD将以往仅限于计量实验室的性能直接带入生产车间，主要性能指标包括：
- 快速对准：最快45秒完成自动对准
- 卓越精度：重复性优于≤30 nm PV（3σ）
- 超强稳定性：功率变化±15 nm（3σ），PV变化±1.5 nm（3σ）
- 更快测量周期：焦点枢轴（FPP）技术使循环时间减少高达65%
应对复杂几何形状的先进技术
LUPHOScan 75 HD配备优化探头和7.5 mm大工作距离，能够精确测量复杂几何形状。系统通过螺旋扫描方式生成密集的3D点云，气浮主轴确保物体平稳旋转，线性平台控制传感器移动。即使在陡峭斜坡和具有拐点的轮廓上，旋转台也能保持传感器与表面的垂直对准。
树立光学计量新标杆
凭借直观的软件和灵活的集成能力，LUPHOScan 75 HD同样适用于研发实验室和生产线。通过提供快速、详细且与操作人员专业水平无关的可重复测量，该系统有助于消除瓶颈并加速整体工作流程效率。
随着LUPHOScan 75 HD的推出，泰勒霍普森进一步巩固了其作为精密测量领域先驱的声誉。该系统成功弥合了实验室级精度与自动化生产速度之间的差距，使光学制造商能够以更快的速度、更高的信心交付更高质量的产品。
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