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首页»机器人测量与自动化»多传感器测量系统»LK 新型传感器为三坐标测量机(CMM)工作流程新增表面粗糙度检测功能

LK 新型传感器为三坐标测量机(CMM)工作流程新增表面粗糙度检测功能

多传感器测量系统 2025年7月15日322 查看

LK Metrology 宣布推出全新表面粗糙度传感器 SURFACER SRP。该传感器即插即用式探头分辨率达 1 微米,可在任何配备行业标准雷尼绍测头座的三坐标测量机(CMM)上,直接在 CNC 测量循环中实现表面粗糙度分析。

该传感器消除了二次检测的需求,无需手持式仪器或独立测量站,制造商即可在单次 CMM 装夹中完成零件的全面检测,大幅节省时间与成本。设备配套专用应用软件,可直接下载使用,简化集成过程,无需依赖第三方软件。

CMM 多传感器能力

SURFACER SRP 支持与接触式探头、扫描探头及非接触式激光扫描仪快速切换,扩展了多传感器检测能力。其安装方式兼容 LK 最新的更换架,实现自动化传感器切换,提升操作效率。

粗糙度探头的核心是一个特殊的主体,可容纳三个可互换的滑动不锈钢探头模块:

  • 一种用于平面、圆锥及圆柱面;
  • 一种用于凹面、凸面及球面;
  • 一种用于检测宽度 >3 mm、深度 <10 mm 的沟槽或类似高度的台阶。

蓝牙 4.0 无线通信

CMM 将测针定位至工件表面后,机床轴保持静止,探头驱动测针在表面滑动完成检测。通过蓝牙 4.0 适配器与 CMM 电脑无线通信,实现数据的无缝传输,简化了安装和操作。

测量过程中,滑轨作为直线基准引导测针,确保稳定性。测针与滑靴相对运动的微小差异被记录为 Z 轴方向的表面偏差,从而高精度捕捉微小的不规则性。

预载机构与高精度测量

SURFACER SRP 配备一体化预载机构,使测针在测量中与 CMM 运动学隔离,避免外部振动或机床运动干扰,确保结果稳定可靠。测针球半径仅 5 微米,施加力小于 0.004 N,避免工件表面变形。其可测粗糙度范围为 0.5 ~ 6.5 Ra。

LK 市场经理 Dave Robinson 表示:“将表面粗糙度测量直接集成到 CMM 上,为制造商提供了强大的工具,不仅简化检测流程,降低成本,还提升了产品质量。在单一平台上完成多种计量功能,避免了零件在多工序转移中的时间损耗和定位误差。”

表面粗糙度的重要性

在车削、铣削、磨削、电火花加工、拉削或铰削等工序后,表面粗糙度测量是评估零件性能的关键。SURFACER SRP 检测的是表面细微的变化和缺陷,包括峰谷,而不是波纹度或形状等更大规模的特征。

表面纹理直接影响零件功能:更光滑的表面可减少摩擦,降低磨损,提升效率、耐久性与性能;在密封件应用中,精确的表面质量可防止泄漏;粗糙表面容易形成应力集中,导致疲劳失效。

此外,表面粗糙度还关系到耐腐蚀性、电导率,以及涂层或粘合剂的附着效果。更光滑的表面更不易吸附腐蚀介质,电性能更佳,粘接更牢固。

更多信息请访问:www.lkmetrology.com

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