多传感器测量系统 LK 新型传感器为三坐标测量机(CMM)工作流程新增表面粗糙度检测功能2025年7月15日 多传感器测量系统 LK Metrology 推出 SURFACER SRP 表面粗糙度传感器,实现 CMM 上的一体化检测,支持多传感器切换与蓝牙无线通信,简化流程、降低成本,提升测量效率与产品质量。