在制造业质量检测领域，仅依靠高速三维扫描往往无法获取完整的尺寸数据。面对深孔、凹陷型腔及遮挡特征等传统光学扫描难以捕捉的特殊结构，先临三维（Shining3D）全新推出的FreeProbe系列提供了创新的解决方案。该系列采用便携式无线光学探测技术，成功弥合了扫描与探测之间的技术鸿沟，确保每一个细节都不被遗漏。
专为复杂测量场景设计
FreeProbe系列专为需要精密点探测的应用场景打造。无论是狭窄的槽缝还是复杂装配体深处的盲孔，该系列都能帮助计量团队在保证精度和工作效率的前提下，精准获取难以触及的特征尺寸。
产品线包含两款针对性机型：
- FreeProbe 2: 面向标准应用的通用无线探测解决方案，可与先临三维FreeScan Trak Nova和FreeScan Trak ProW系统无缝集成
- FreeProbe 2 Pro: 在基础版功能之上，增强了深孔探测能力，即使在部分光学标记点被遮挡时仍能保持精确追踪，非常适合高度复杂或存在部分遮挡的测量环境
多种测头配置实现全方位测量
FreeProbe的核心优势在于其灵活性。系统支持多种测头延伸杆和模块化配置（包括L型组件），用户可根据具体测量任务灵活配置，轻松应对内腔特征、狭窄型腔和深孔等复杂结构的测量需求。
持续追踪下的深孔探测能力
FreeProbe 2 Pro进一步提升了追踪性能，即使在探测过程中部分光学标记被遮挡，系统仍能保持精确的位置感知。这一特性在面对内部空腔或可达性受限的特征测量时显得尤为重要，有效解决了视线追踪的技术难题。
快速设置与人性化操作
FreeProbe充分考虑用户体验，可在数秒内与FreeScan Trak系统实现无线配对，最大限度减少扫描与探测操作间的停机时间。其轻量化的人体工学设计减轻了操作人员长时间使用的疲劳感，直观的界面设计使得经验丰富的计量工程师和新手都能快速上手，从而提升生产效率并保证测量结果的一致性。
弥合扫描与探测的技术鸿沟
对于追求零件完整数字孪生的制造企业而言，仅依靠扫描技术可能会导致关键特征数据的缺失。FreeProbe成功融合了两种技术的优势：高速扫描实现整体表面覆盖，精密探测则专门针对光学扫描无法触及的特征。
当与FreeScan Trak Nova或ProW配合使用时，整个工作流程变得无缝衔接。用户可在单次测量过程中自由切换扫描与探测模式，无需重新定位或多重设置，即可确保全面覆盖所有特征。
在公差要求日益严格、检测需求日趋复杂的工业领域，FreeProbe系列为制造商提供了前所未有的测量信心和灵活性，即使面对最难以接近的检测位置也能游刃有余。
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