全球精密计量领域的领先企业 LK Metrology 推出了新一代用于三坐标测量机（CMM）的激光扫描器。基于 L100 的成功基础，全新 L100NX 采用先进的蓝光激光技术，在扫描性能、测量精度和用户体验方面实现全面升级。
与上一代使用红光激光不同，L100NX 采用波长 450 纳米的蓝光激光，可显著降低扫描数据中的噪点，从而获得更干净、更可靠的测量结果。这项提升对数据完整性要求极高的应用领域尤为关键，例如航空航天与汽车制造行业。
L100NX 将高速与高精度完美结合，具备 110 mm 的宽扫描带宽以及每秒高达 530,000 点的采集速度，非常适合对大型零部件进行高效检测。同时，其高精度设计确保能够从容应对最严苛的检测任务。
L100NX 的核心是 LK 第四代 ESP（增强型传感性能）技术，可对激光线上的 2,000 个测量点分别智能调节激光功率，使扫描器能够轻松测量多材料组件以及高反光表面，无需进行表面预处理或额外手动干预，从而简化检测流程并降低操作负担。
为进一步提升易用性，传感器配备了集成式旋转适配器，可灵活调整扫描器姿态，以便更好地检测复杂几何结构的工件。同时，内置的视场范围（FOV）投影器可将扫描覆盖区域直接投射到工件表面，帮助简化编程与设置过程。
L100NX 扫描套件采用防护箱包装，除扫描器主体外，还配备了所有必要的附件和操作及基础维护所需的文档。
LK Metrology 激光扫描产品经理 Kristof Peeters 表示：“L100NX 代表了激光扫描技术的一次重大飞跃。通过将蓝光激光的高精度、智能传感性能与多项用户友好功能结合，我们为现代制造业不断发展的需求提供了全新的解决方案。L100NX 的发布再次体现了 LK Metrology 致力于研发创新计量设备的承诺，帮助客户在检测流程中实现更高效率与更高精度。”
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