多传感器测量系统 LK 新型传感器为三坐标测量机(CMM)工作流程新增表面粗糙度检测功能2025年7月15日 多传感器测量系统 LK Metrology 推出 SURFACER SRP 表面粗糙度传感器,实现 CMM 上的一体化检测,支持多传感器切换与蓝牙无线通信,简化流程、降低成本,提升测量效率与产品质量。
客户案例 客户案例|从赛车运动到航空航天,蔡司三坐标为Poggipolini 保驾护航2025年6月12日 客户案例 意大利 Poggipolini 运用快速热锻与蔡司 ZEISS PRISMO ultra 等高精度测量方案,确保航空航天关键部件的可靠性与认证合规,从赛车跨界航空航天,成功实现高端制造转型与持续创新。