0.2秒高速扫描 ，0.02mm高精度 ，定义工业测量新标准，中观全新FidelScan 50M结构光面扫三维扫描测量仪震撼发布！
见证“产线慧眼”如何，「瞬拍全维 洞悉精微」
FidelScan 50M结构光面扫三维扫描测量仪，快准兼得，无需妥协
打破“速度与精度”的权衡，让快与准真正共存
【全维洞察力】1200万点高密度点云新一代蓝光LED与超高像素双目系统协同工作，实现单次拍摄生成1200万点高密度点云，点间距精细至0.08mm。螺纹、切边、倒角等复杂特征一次捕获，清晰还原。
【精准可信度】0.02mm计量基石测量精度高达0.02mm（较前代提升33%），为在线质量控制提供稳定、可追溯的计量基准，直面严苛工业场景对重复性与准确性的双重挑战。
【产线高效率】0.2s速度革命
单次扫描最快仅需0.2秒，支持连续高速采集。让三维检测无缝融入自动化流程，与高速产线同频共振，完美适配新能源电池盒、汽车车门、复杂钣金件等的在线全检需求。
FidelScan 50M结构光面扫三维扫描测量仪，为产线而生，不止测量
根植真实工业现场，直击产线痛点，赋能精准感知
【产线慧眼，效率倍增】大视野，单幅测量范围达340mm×190mm（较前代扩大超4倍），可大幅减少扫描拼接次数，缩短整体检测节拍。配合490mm基准距离，轻松适配各类产线布局，安装友好。
【智能适应，稳定输出】破黑亮针对高反光/吸光黑亮件及黑白相间件等传统测量难点，通过算法与光学系统优化及智能曝光控制，系统自动优化成像参数，确保稳定输出高质量点云，省去人工干预。
【灵活集成，成本可控】轻部署，支持单机自动化测量模式，无需光学跟踪器和外部靶标，通过工件首件标志点实时解算位姿，结合机械臂高重复定位精度，即可完成高精度自动化检测，大幅降低系统复杂度与部署成本。
FidelScan 50M结构光面扫三维扫描测量仪，智能软件，化繁为简
AtlaXD Studio专业测量软件，让非专业人员也能快速上手
AtlaXD Studio 智能三维测量软件
配套AtlaXD Studio软件，提供从高精度标定、增量式扫描到智能拼接、偏差分析的一站式操作体验。将复杂操作流程化、智能化、可视化，显著降低操作门槛，提升从数据到洞察的整体效率。
- 3D可视化标定引导，误差自动反馈
- 增量式智能扫描，支持连续扫描与单拍补扫
- 自动标志点识别与拼接，多视角点云高精度对齐
- 一键式智能剔除背景干扰，支持自动复用
- 一体化后处理与输出，无缝对接质检及逆向流程
在智能制造迈向“零缺陷”的路上，AtlaXD 50系列，以瞬拍之速、精微之准、灵活之姿，将成为您产线上的“三维慧眼”
