关闭菜单
计量NEWS
  • 首页
  • 新闻
    • 行业快讯
      • 头条新闻
      • 精选资讯
      • 通知公告
    • 专题报道
      • 编辑推荐
      • 商业专题
      • 技术前沿
    • 应用案例
      • 客户案例
      • 行业解决方案
    • 活动与培训
      • 活动日历
      • 活动报道
      • 线上研讨会
      • 2026年度奖项评选
    • 计量月刊
    • 计量周报
  • 计量技术与设备
    • 接触式测量
      • 三坐标测量机
      • 接触式测头与关节臂
      • 手持便携测量设备
      • 夹具与固定装置
    • 光学与非接触式测量
      • 三维扫描系统
      • 激光跟踪仪
      • 摄影测量
      • 影像测量系统
      • 光学干涉仪
      • 光学检测传感器
      • 激光雷达
    • 工业CT与X射线检测
      • 工业CT
      • 二维X射线检测系统
    • 表面光洁度仪与量具
      • 表面光洁度仪
      • 量具
  • 工业自动化
    • 多传感器测量系统
    • 自动化应用
  • 新兴技术
    • 具身智能
    • 人工智能 AI+
  • 软件
    • 测量分析与检测软件
    • 数据处理与编辑软件
    • 逆向工程与三维设计软件
    • 质量管理系统
  • 行业应用
    • 航空航天
    • 汽车工业
    • 精密电子
    • 重工能源
    • 机械制造
    • 科研医疗
    • 新兴产业
  • 知名企业
    • 蔡司工业
    • 先临三维
    • 天准科技
    • 博力加 PolyWorks
热门文章

Metrology News十年历程:测量技术如何改变制造业

2026年10月16日

ZEISS推进下一代半导体制造的检测与计量技术

2026年10月16日

超越过程监测:为什么金属增材制造需要构建智能

2026年10月16日

Bertrandt与Bosch Rexroth融合机器视觉、AI与自动化

2026年10月16日

制造业数据质量:质量成本中被忽视的杠杆

2026年10月16日

FARO Quantum X加速汽车检测激光扫描

2026年10月16日
Facebook 推特 Instagram
  • 关于我们
  • 联系我们
  • 注册
  • 登录
计量News国际站
计量NEWS
  • 首页
  • 新闻
    • 行业快讯
      • 头条新闻
      • 精选资讯
      • 通知公告
    • 专题报道
      • 编辑推荐
      • 商业专题
      • 技术前沿
    • 应用案例
      • 客户案例
      • 行业解决方案
    • 活动与培训
      • 活动日历
      • 活动报道
      • 线上研讨会
      • 2026年度奖项评选
    • 计量月刊
    • 计量周报
  • 计量技术与设备
    • 接触式测量
      • 三坐标测量机
      • 接触式测头与关节臂
      • 手持便携测量设备
      • 夹具与固定装置
    • 光学与非接触式测量
      • 三维扫描系统
      • 激光跟踪仪
      • 摄影测量
      • 影像测量系统
      • 光学干涉仪
      • 光学检测传感器
      • 激光雷达
    • 工业CT与X射线检测
      • 工业CT
      • 二维X射线检测系统
    • 表面光洁度仪与量具
      • 表面光洁度仪
      • 量具
  • 工业自动化
    • 多传感器测量系统
    • 自动化应用
  • 新兴技术
    • 具身智能
    • 人工智能 AI+
  • 软件
    • 测量分析与检测软件
    • 数据处理与编辑软件
    • 逆向工程与三维设计软件
    • 质量管理系统
  • 行业应用
    • 航空航天
    • 汽车工业
    • 精密电子
    • 重工能源
    • 机械制造
    • 科研医疗
    • 新兴产业
  • 知名企业
    • 蔡司工业
    • 先临三维
    • 天准科技
    • 博力加 PolyWorks
计量NEWS
首页»新闻»FARO Blink 成像激光扫描仪荣获2026 iF 设计奖

FARO Blink 成像激光扫描仪荣获2026 iF 设计奖

新闻 2026年7月15日242 查看

2026年6月25日,FARO INSIGHT 推出的 Blink 成像激光扫描仪荣获 2026 年度 iF 设计奖 (iF Design Award 2026),此次获奖意在表彰 Blink 在数字现实领域的功能性设计、实用性以及创新性。

全球最负盛名的设计荣誉之一: iF 设计奖由德国独立机构 iF 设计基金会 (iF Design Foundation) 评选,自 1954 年设立以来一直具有重要影响力。

Blink 从 68 个国家/地区的 10,000 多个参赛作品中脱颖而出,由 129 位独立设计专家组成的国际评审团进行评选,夺得产品设计类和工业类奖项。

Blink 于 2025 年推出,旨在帮助专业人士扫描并捕捉高质量、可测量的数据。其易用性和一键式引导扫描工作流程消除了复杂性,确保用户能获得精确的 3D 扫描结果、360° 照片以及对各类设施和资产的见解。

Blink 专为各学科、各经验水平的专业人士打造,能够提供直观、高质量的场景及地点文档记录,以及可执行的见解,帮助用户自信决策。

配合使用 Stream 应用,专业人士能够实时查看 3D 扫描结果和配准数据,从而获得有价值的信息,并简化“从现场到见解”的工作流程。

随着软件及工作流程的持续升级,Blink 通过定期更新、不断迭代,致力于进一步提升处理与扫描的速度、实用性,以及见解和现实捕捉数据的质量。

文章转自法如三维测量官方公众号,如有侵权,请联系删除。

计量news,精观天下

if奖
上一篇文章三坐标CMM在线检测,从来不是把设备搬出实验室而已
下一篇文章 小松 (Komatsu) 如何以类比外科手术的精度检测巨型钢构件
Hope
Hope

    相关文章

    精选资讯

    Metrology News十年历程:测量技术如何改变制造业

    2026年10月16日
    蔡司工业

    ZEISS推进下一代半导体制造的检测与计量技术

    2026年10月16日
    增材制造

    超越过程监测:为什么金属增材制造需要构建智能

    2026年10月16日
    留言 取消回复

    最新精选

    Metrology News十年历程:测量技术如何改变制造业

    2026年10月16日

    ZEISS推进下一代半导体制造的检测与计量技术

    2026年10月16日

    超越过程监测:为什么金属增材制造需要构建智能

    2026年10月16日
    热门文章

    国产三坐标走向世界,为何这么难?

    1,902 查看

    蔡司百年美国之路:从精密光学到引领全球科技创新

    1,538 查看

    最近十年,三坐标、扫描仪、工业CT等如何从实验室走向产线,变得更便携?

    1,410 查看
    最新热门

    国产三坐标走向世界,为何这么难?

    2026年2月14日1,902 查看

    蔡司百年美国之路:从精密光学到引领全球科技创新

    2025年12月16日1,538 查看

    最近十年,三坐标、扫描仪、工业CT等如何从实验室走向产线,变得更便携?

    2026年3月25日1,410 查看
    最新精选

    Metrology News十年历程:测量技术如何改变制造业

    2026年10月16日

    ZEISS推进下一代半导体制造的检测与计量技术

    2026年10月16日

    超越过程监测:为什么金属增材制造需要构建智能

    2026年10月16日

    订阅计量News

    通过提交信息,您将加入计量News的专业网络,第一时间掌握行业动态。

    请在浏览器中启用JavaScript来完成此表单。
    隐私声明 *
    加载
    • 首页
    • 关于我们
    • 联系我们
    • 隐私政策与服务条款
    • 计量News国际站
    © 2026 计量News 版权所有 浙ICP备2025204930号 sitemap

    键入关键词,并按 Enter 键进行搜索。按Esc取消。

    订阅

    订阅计量News,及时获取工业计量与智能制造领域的重要资讯、行业趋势与深度内容。

    请在浏览器中启用JavaScript来完成此表单。
    隐私声明 *
    加载
    微信公众号

    关注微信公众号

    微信公众号二维码

    扫描二维码关注我们

    微信视频号 视频号

    关注视频号

    微信视频号

    扫描二维码关注我们

    资料下载
    联系我们

    联系我们

                       

    邮箱:contact@metrologynews.cn

    电话:17376579771

    微信

    返回顶部