浏览: 半导体测试

精测电子先进存储芯片FT测试设备JH8800面向UFS高性能嵌入式存储测试，支持UFS 2.1至4.1协议、-40℃至+125℃宽温测试及最高512颗并行测试，助力存储芯片量产质控提效。