蔡司推出VersaXRM 5 Insight，这是一款融合型3D X射线显微镜，旨在帮助科研人员和工程师更快理解样品内部结构。该系统将X射线显微镜与工业CT集成于同一平台，可提供多尺度成像、引导式工作流程以及AI辅助自动重建能力，从而实现高效的无损三维成像。
蔡司VersaXRM 5 Insight兼顾性能与应用价值，可帮助材料研究、工业检测和生命科学领域的科研人员与工程师，在通量、分辨率和易用性之间减少取舍。
多尺度成像，无需打断现有工作流程
科研人员、工程师和生命科学研究人员经常需要在不同尺度下观察复杂样品，以揭示影响性能、行为或失效的内部特征，或者理解生物样本的结构及其空间组织方式。蔡司VersaXRM 5 Insight通过在同一系统中结合大视野与高分辨率成像能力，满足了这一需求。
用户可以先对较大样品进行整体观察，再放大至感兴趣区域，并获取详细的三维信息，无需更换硬件配置，也不会中断现有的工作流程或实验。
该系统将工业CT的通量、灵活性和效率，与实验室级X射线显微镜的细节呈现和分析能力结合起来。这种混合成像能力能够通过统一的工作流程，同时观察大尺度结构和精细内部特征，并保持样品完整性。
高分辨率成像，保护样品完整性
蔡司VersaXRM 5 Insight配备“远距离分辨率”（Resolution at a Distance，RaaD）技术，可对较大样品中的微小特征和内部缺陷进行高分辨率成像。由于减少了对样品进行切割、修整或重新装夹的需求，该系统能够帮助科研和工业用户节省时间、降低样品制备误差，并保护脆弱或难以重复获取的样品。
这种无损成像方式可以帮助用户在进一步制备或后续分析之前，先确定样品内部值得关注的区域。由此能够开展更有针对性的研究，减少不必要的样品处理，并提升检测、科研和质量保障应用中的判断信心。
引导式操作，加快可靠结果获取
3D X射线成像的生产效率并不只取决于扫描速度。蔡司VersaXRM 5 Insight通过ZEN navx软件环境应对设置时间、操作人员差异以及工作流程决策等问题。该软件提供直观的操作环境、智能引导和基于样品的导航，可简化系统设置，支持针对不同样品进行成像决策，同时保护样品和系统。
FAST模式能够快速提供成像反馈，用于三维导航、整件检测以及中等分辨率扫描。这有助于用户加快筛查、定位和原位实验过程，并缩短整体结果获取时间。
美国密苏里州丹福斯植物科学中心（Danforth Plant Science Center）研究科学家兼X射线成像主任Keith Duncan博士在对该系统进行Beta测试后表示：“对于既需要满足日常生产效率，又需要先进3D成像能力的团队而言，蔡司VersaXRM 5 Insight提供了一条务实的前进路径。经过改进的探测器架构将平板探测器与RaaD结合，能够带来令人印象深刻的图像质量。
“它能够帮助用户快速从整体观察切换到细节分析，同时保持样品完整，并让工作流程更加顺畅。”
面向科研与工业应用设计
蔡司VersaXRM 5 Insight可服务于材料研究、工业检测和生命科学等多种应用场景。在材料研究中，它能够帮助用户研究失效机制、检测内部缺陷，并通过原位和4D研究量化微观结构的演变。
在工业应用中，该系统支持高分辨率零部件质量检测，可用于半导体及电子封装领域的根因分析，并通过更深入的三维信息提升制造、质量保障和失效分析过程中的良率。
在生命科学领域，蔡司VersaXRM 5 Insight能够帮助研究人员以多尺度方式对生物结构进行三维可视化，确定后续成像研究所需的重点区域，同时保护具有价值的样品。
蔡司显微镜X射线显微镜业务负责人Nicolas Gueninchault表示：“蔡司VersaXRM 5 Insight将工业CT的灵活性、X射线显微镜的细节呈现能力以及引导式工作流程结合在一个兼顾价值的统一平台中。借助这一系统，用户可以提高工作效率、保护有价值的样品，并获得所需的三维洞察，而无需在通量、分辨率和易用性之间被迫做出选择。”
更多信息可访问蔡司工业显微镜官网。
