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首页»计量技术与设备»新品发布 | Artec 3D 推出 Artec Neo,开创公差驱动的三维扫描新方式

新品发布 | Artec 3D 推出 Artec Neo,开创公差驱动的三维扫描新方式

计量技术与设备 2026年9月15日270 查看

026年9月14日,卢森堡——全球三维扫描硬件与软件领域的领先企业Artec 3D今日宣布推出Artec Neo——全球首款采用“公差驱动”理念的三维扫描仪,为质量检测和逆向工程带来全新的工作方式。

Artec Neo可在设计要求的关键区域实现0.025 mm计量级精度和0.025 mm + 0.04 mm/m的体积精度,同时以最高0.05 mm分辨率获取整个工件的全彩三维数据。

这些参数本身已十分出色,但Artec Neo带来的突破远不止于此。它采用全新的三维扫描方式:不再对所有表面一视同仁,而是将计量级精度集中于功能性特征。这正是Artec所倡导的“公差驱动”的三维扫描:在贴点方式上赋予用户充分灵活性,在确保关键区域达到计量级精度的同时,大幅提升扫描效率。

公差驱动的三维扫描新方式,让测量遵循设计意图

现代工程设计遵循一个简单原则:测量应该聚焦于那些决定零件是否能正常运作的关键表面。这一理念正是GD&T(几何尺寸与公差)的核心。工程师通过尺寸和公差传达设计意图——明确哪些特征对于装配、定位、密封和功能至关重要,以及这些特征需要达到怎样的精度要求。

然而,到目前为止,计量级三维扫描通常对所有表面一视同仁。传统激光扫描工作流程往往需要在整个工件表面粘贴标记点,以维持经过验证的精度,即便某些区域对精度并无关键要求。这让质量检测与逆向工程变得耗时冗长、成本高昂,却并非必要。

Artec Neo改变了这一方式:让计量级精度遵循设计意图。这一能力得益于Artec自主研发的蓝光光学系统和单一混合式跟踪架构。Artec Neo仅在需要计量级精度的区域使用标记点作为测量基准,在关键公差区域实现0.025 mm精度。与此同时,AI算法利用几何形状、纹理和颜色信息,在其他区域持续保持扫描跟踪。整个过程中无需在不同扫描技术或数据集之间切换。

单次扫描,一个数据集,让精度聚焦于功能需求。

“GD&T所体现的理念很简单:并非所有区域都需要极致精度,真正需要控制的是那些决定零件能否正常工作的关键特征。”Artec 3D总裁兼首席执行官Art Yukhin表示,“Artec Neo将这一理念应用于三维扫描。如果你有工程图纸,图纸会告诉你哪些区域需要计量级精度;如果你进行逆向工程,可以在重建设计的过程中确定这些区域。让计量级精度聚焦于功能所需之处,同时完整捕获整个工件。这就是我们所说的‘公差驱动的三维扫描’。”

一台三维扫描仪,兼顾质量检测与逆向工程

Artec Neo支持多种工作流程,标记点如何使用完全由用户决定。在进行全尺寸计量检测时,可在整个工件上粘贴标记点;在尺寸测量中,可以仅在具有关键公差要求的特征周围贴点。对于易损或磨损的表面,还可以将标记点贴附在周围的夹具上,在保护工件原有状态的同时,为关键尺寸测量提供稳定的计量基准。而在无需计量级精度的场景中,Artec Neo可以完全不贴点进行扫描,以最高0.05 mm分辨率捕捉精细细节,包括深部特征,并获取逼真的全彩三维数据。

Artec Neo搭载Artec 3D旗舰级三维数据采集与处理软件Artec Studio,可输出适用于逆向工程和质量检测的三维数据。软件提供完整的数据编辑工具,并支持与SOLIDWORKS、Geomagic和PolyWorks等专业软件集成,以满足更高级的工程应用需求。

Artec Neo适用于对尺寸公差要求严苛的行业和应用场景。在汽车行业,用户可以测量间隙与面差,同时完整捕捉周围车身数据。在航空航天维修、维护与大修领域,可以对关键接口进行精确测量,同时数字化更大范围的结构部件。在国防和工业维护领域,即使缺少工程图纸或现有CAD模型,Artec Neo也能够帮助用户重建老旧零部件。在改造与安装应用中,Artec Neo能够精确捕捉连接点和接口,同时获取周围完整的几何数据。

每台Neo均经过精度验证

Artec Neo的计量性能在Artec 3D独立计量与校准实验室中进行验证,该实验室依照ISO/IEC 17025标准运作,并采用符合VDI/VDE 2634第3部分标准的测试方法。自动化机器人测试消除了操作人员的影响,确保整个测量体积内的重复性。每台Artec Neo均经过单独测试,并随附专属验证证书出货。

无线计量,无拘无束

Artec Neo支持有线连接或完全无线工作,提供最长50分钟的连续电池供电和Wi-Fi连接。无论是机械内部、大型装配体周围、高空作业、狭小空间,还是生产车间,尺寸控制可直接在零件现场进行。此外,即将推出的iOS和Android配套应用程序还可将任意智能手机变为Artec Neo的显示屏。

“Artec Neo的核心不在于将计量精度应用于每一处,而在于将其应用于设计所需之处,同时完整捕获工件,”Yukhin补充道,“测量关键所在,捕获一切细节。“产品上市

Artec Neo于2026年IMTS展会首次亮相,展会时间为9月14日至19日,地点位于芝加哥麦考密克展览中心。展会期间,观众可在东馆3层134246号展位现场体验Artec Neo以及Artec 3D完整的三维扫描产品系列,并获得Artec 3D合作伙伴及公司专家提供的专业咨询。

文章转自Artec 3D官方公众号,如有侵权,请联系删除。

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