Artec 3D宣布推出Artec Neo，这是首款以公差为驱动的无线三维扫描仪，为尺寸控制和逆向工程带来全新方法。
Artec Neo可提供0.025 mm的计量级精度，以及0.025 mm + 0.035 mm/m的体积精度，并在设计有此要求的区域实现上述精度；同时以最高0.05 mm分辨率采集整个零件的全彩三维数据。
Artec Neo带来了一种全新的三维扫描方式。它不再将每个表面视为同等重要，而是将计量级精度用于功能性特征。这就是Artec 3D所称的“公差驱动三维扫描”：用户可以灵活决定如何使用靶标，并以更高效率获得计量级结果。
根据设计意图进行测量
现代工程建立在一个简单原则之上：测量那些决定零件能否按照设计正常工作的表面。这一理念正是GD&T的核心。工程师通过尺寸和公差传达设计意图，明确哪些特征对于装配、对准、密封和功能至关重要，以及每项特征需要控制到何种程度。
直到现在，计量级三维扫描通常仍将所有表面一视同仁：传统激光扫描工作流程需要在整个零件上布置靶标，以维持经过保证的精度，包括那些没有关键要求的区域。这使检测和逆向工程变得不必要地缓慢且昂贵。
Artec Neo改变了这一模式：计量级精度跟随设计意图而变化。这得益于Artec 3D专有的蓝光光学系统和单一混合跟踪架构。Artec Neo仅将靶标作为计量锚点，在公差要求关键的位置提供0.025 mm精度；与此同时，AI算法通过几何形状、纹理和颜色，在其余扫描区域维持跟踪。整个过程中无需在不同扫描技术或数据集之间切换。
一次扫描，一个数据集，精度随功能需求而定
“GD&T背后的理念很简单。并不是所有位置都需要极致精度，只需要控制那些决定零件能否正常工作的部分。”Artec 3D总裁兼首席执行官Art Yukhin表示，“Artec Neo将同样的原则应用于三维扫描。如果你有一张工程图纸，它会告诉你计量应该应用在哪里；如果你正在进行逆向工程，那么在重建设计的过程中，你可以自行做出这一判断。根据功能需求布置计量，同时采集完整零件，这就是公差驱动扫描。”
Artec Neo支持多种工作流程，用户可以自行选择如何使用靶标。对于整件零件的计量，可在整个零件上布置靶标；在尺寸控制场景中，则可以围绕具有关键公差要求的特征布置靶标。对于易损或已经磨损的表面，还可以将靶标贴在周围的夹具上，在保护零件状态的同时，以周围夹具作为尺寸精度的锚点。
而在不需要计量级精度的区域，Artec Neo可以完全不使用靶标进行扫描，以最高0.05 mm分辨率采集精细细节，包括深部特征，并呈现逼真色彩。
Artec Neo由Artec 3D旗舰软件Artec Studio提供支持，用于三维数据采集和处理，可直接生成适用于逆向工程和检测的数据。该平台包含所有必要的编辑工具，并支持与SOLIDWORKS、Geomagic和PolyWorks集成，用于完成更高级的任务。
Artec Neo可用于具有严格公差要求的行业。在汽车领域，这意味着可以在采集周围车身数据的同时测量面差和间隙。在航空航天维护、维修和大修（MRO）领域，可以测量关键接口，同时对更大范围的结构进行数字化。在国防和工业维护领域，当图纸或CAD数据不复存在时，Artec Neo可用于重建老旧零部件。
在改造和安装场景中，它还可以在采集周围几何形状的同时，精确获取连接点和接口。
Artec Neo的计量性能已在Artec 3D独立计量与校准实验室得到验证。该实验室按照ISO/IEC 17025原则运行，并采用符合VDI/VDE 2634第3部分标准的测试方法。自动化机器人测试消除了操作人员的影响，并确保整个测量空间内的重复性。
Artec Neo既可以有线连接使用，也支持完全无线工作，可通过电池连续扫描最长50分钟，并支持Wi-Fi连接。这使尺寸控制能够直接来到零件所在位置，无论是在设备内部、大型装配体周围、高处、狭窄空间还是工厂车间。配套的iOS和Android应用也将推出，并可将任意智能手机作为Artec Neo的显示设备。
“Artec Neo并不是要在所有地方都应用计量，而是要在设计要求的地方应用计量，同时完整采集整个零件。”Yukhin补充道，“测量重要的部分，采集全部数据。”
了解更多信息，请访问：Artec 3D官网
