蔡司工业质量解决方案将在IMTS 2026（9月14日至19日，芝加哥麦考密克会展中心）上展示，值得信赖的测量数据如何帮助更早地发现质量问题、更快地做出决策，并让制造业以十足的信心持续推进。通过现场技术演示、专家主导的软件专题会议以及互动体验“确定性挑战”，参观者将亲身体验到——美好的一天始于确定性。
随着人工智能、自动化和数字化正在重塑车间，制造商拥有了比以往更多的数据，但对于无法信赖的数据，其可操作空间却越来越小。互联的质量技术帮助团队了解零件和流程中正在发生的状况，在问题演变为代价高昂的中断之前加以理解，并以更高的信心和更快的速度做出响应。
“制造转型的下一阶段，其定义将不在于企业收集了多少数据，而在于他们能否自信地基于数据采取行动，”蔡司美国工业质量解决方案总裁Hendrie Viktor表示。“在IMTS上，我们将展示值得信赖的质量数据如何帮助制造商应对日益增长的复杂性，从不确定性走向行动——更快速、更智能、更具掌控力。”
在占地5200平方英尺的展台上，蔡司将展示涵盖自动化、多传感器坐标测量机（CMM）、CT/X射线无损检测系统、显微镜、3D扫描仪、多传感器视觉测量机（VMM）以及表面和特殊几何形状测量仪器的技术，同时配备为航空航天、汽车/电动汽车、医疗、电子以及电力和能源等关键行业打造的智能软件。
在展台中央，蔡司软件中心将展示测量技术、数字化工作流、报告和质量数据管理如何融合在一起，将测量数据转化为可操作的洞察。蔡司专家将主持每日演示，展示互联软件和AI辅助分析如何帮助团队从原始数据迈向更快的决策。
“确定性挑战”将质量决策带入现实
蔡司还首次推出“确定性挑战”，这是一种互动体验，将参观者置于一个每个决策都至关重要的典型制造工作日中。参与者将应对真实的质量场景，回答快速问答，并了解蔡司解决方案如何减少不确定性、建立信心。
IMTS会议讲座——质量检测的革命
蔡司X射线显微镜解决方案产品经理Herminso V. Gómez博士将于2026年9月16日（星期三）上午11:00至11:55在西楼W192-C室发表题为“利用智能3D X射线技术和深度学习算法革新质量检测”的演讲。
本次会议将探讨AI增强型计算机断层扫描（CT）如何通过先进的缺陷检测、数字孪生和无损检测，正在改变工业质量保证。与会者将获得关于制造商如何利用智能3D X射线技术提高可靠性、效率和过程控制的实用洞见。
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