在电子制造行业中，SIM卡外壳、薄壁钣金件、柔性电路板支架等小型敏感部件，正变得越来越精密、越来越脆弱。
如何在保证不损伤工件的前提下，实现高效、精准、可重复的测量，成为许多质量工程师头疼的难题。
接触式测量一定是“慢工出细活”吗？
蔡司用一项功能给出了否定答案——ZEISS SoftTouch 模式。
SoftTouch 模式三大测量挑战，一次回应
电子行业微小部件测量主要面临三大难点：
- 工件微小、材质软、易变形——传统测力可能导致零件弯曲或划伤；
- 效率与质量难两全——高精度往往意味着低速度；
- 轮廓公差要求严苛——直接影响批量生产的工艺稳定性与后续装配质量。
而 SoftTouch 模式，正是针对这三大痛点而生。
核心优势：不减速，更精准
SoftTouch 模式的核心机制，是在测量过程中最大限度减少材料变形，同时不牺牲测量速度。
具体表现为：
- 单点探测时间高度节省，显著缩短测量周期；
- 支持接触式扫描测量，对大批量零件间的偏差有更高重复性；
- 可根据测量特征灵活切换——在“高效率”与“高精度”之间自由选择。
这意味着，无论是抽检还是全检，都能找到适合的测量策略。
硬件加持：VAST XXT TL1 + 原装吸盘
SoftTouch 模式运行于ZEISS SPECTRUM测量机平台，可选配ZEISS VAST XXT TL1 传感器。该传感器必须配合蔡司原装吸盘使用，以确保：
- 卓越的测量精度与重复性；
- 稳定的扫描速度；
- 对柔性件与标准件均适用。
这是一套“软硬结合”的系统性解决方案，而非单一功能叠加。
探针灵活组合，效率再升级
除了传感器和原装吸盘，探针系统也具有较高赋能价值：
- 灵活的 M3 XXT探针组合，适配多种检测任务；
- 配合 ZEISS FixAssist XXT 探针调整装置，可轻松安装并精确调整固定角度探针、星形探针和可夹紧星形探针；
- 一套探针系统，覆盖多品类工件，减少换型时间，提升整体生产效率。
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